iEDX-150WT-X射线镀层测厚仪

产品优势

1. 镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性高（见以下产品特征详述）。

2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达110*110*5mm。（固定台可选）

3. 激光定位和自动多点测量功能。

• 可检测固体、粉末状态材料。
• 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。
• 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。
• 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。
• 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
• 软件*升级。
• 无损检测。
• 使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务。
• 可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。
• 可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

（二）产品特征

• 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
• 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。

• Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析。

可以增加RoHS检测功能。

• MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

   当化金厚度在2u〞-5u〞时，测量时间为40S

   准确度规格 ±5% 

   精确度规格 <5%（COV变动率）

   当化金厚度 >5u〞时，测量时间为40S

   准确度规格 ±5%

   精确度规格 <5%（COV变动率）

   当化银厚度在5u〞-15u〞时，测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

      精确度规格 <7%（COV变动率）

   测化锡时，测量时间为40S

   准确度规格 ±8%

   精确度规格 <6% （COV变动率）

      准确度公式：准确度百分比=（测试10次的平均值-真值）/真值**

   精确度COV公式： （S/10次平均值）**

• Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统
• 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
• 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。