ZEISS 工业CT电脑断层扫描测量机 METROTOM 1500

蔡司多功能工业CT测量机METROTOM可基于X射线对工件进行高精度无损检测，可进行材料内部的气孔，夹杂，疏松，裂纹的定性与定量缺陷分析，制品的壁厚分析，数模对比分析，逆向工程领域的应用，同时可在不破坏产品结构的前提下洞悉被测件内部的细节与装配状态，不仅如此，METROTOM为我们的客户提供了更佳的几何计量解决方案，帮助客户解决了长期以来工件内部尺寸难以检测等问题，从而获取更全面的测量数据，对于加强产品的品质控制与提高企业经济效益发挥了至关重要的作用。