20/30 PV拉曼&紫外-可见-近红外显微分光光度计

20/30 PV显微分光光度计是CRAIC技术公司大的显微分析仪器。为了满足用户需求，该定制仪器集成了的光学、光谱及软件开发技术以提供的速度和性能。同时，被用户熟知的CRAIC仪器的易用性也有所提升，使得该仪器成为紫外-可见-近红外显微光谱学中的。

20/30PV显微分光光度计结合了的技术使得用户能够测量样品上小于一微米区域的紫外-可见-近红外范围的透射，吸收，反射，发射和荧光光谱。即便是薄膜厚度和色彩空间也能够确定。并且，在获取显微光谱的同时，用户能够在深紫外，可见或近红外观察到样品的高分辨率数码影像。易于使用，包括仪器从人工到软件自动化的所有改进也提高了20/30PV系统的性能。

20/30PV显微分光光度计操作简单，可提供无损测量和的光谱数据。

主要特性：

Ÿ 光谱范围：200-2100nm

Ÿ 紫外-可见-近红外透射显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外透射成像

Ÿ 紫外-可见-近红外反射显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外反射成像

Ÿ 紫外-可见-近红外荧光显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外荧光显微成像

Ÿ 拉曼显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外范围内的偏振显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外范围内的偏振微区成像

Ÿ 薄膜厚度测量

Ÿ 微观样品的色度测量

Ÿ 结合rIQ进行折射率的测量

Ÿ 手动或全自动操作

Ÿ 配备Lightblades技术

Ÿ 集成TE制冷阵列探测器以提供超低噪声和长期稳定性

Ÿ 样品温度的精确控制

Ÿ 对样品上小于一微米区域的校准和变量测量

Ÿ 同时使用目镜和数字成像的成像功能

Ÿ 搭配Lambdafire光谱，成像控制及分析软件。Lambdafire同时包括触摸屏控制

Ÿ 专业的软件模块，包括统计分析，光谱数据库，成像分析等

Ÿ 易于使用和维护

Ÿ 来源于显微光谱领域专家

紫外-可见-近红外显微光谱

显微光谱中的产品

该仪器是一个*集成的显微光谱单元，光谱范围包括从紫外到可见到近红外。可同时对采样孔径和样品直接成像从而进行快速精确的测量。20/30 PV搭载Lightblades技术，即便尺寸在亚微米样品的透射，反射，偏振，荧光光谱也能测量。CRAIC Technologies也是美国国家标准技术研究所（NIST）可追溯分光光度计标准认可的来源。

拉曼显微分光光度计

灵活的拉曼显微分光光度计

当装配上CRAIC Apollo拉曼光谱仪模块时，20/30 PV就具备了拉曼功能，能够对显微样品进行拉曼测量，共振拉曼测量，以及其它类型的测量。模块包括激光器，拉曼光谱仪以及能够收集样品的高质量拉曼光谱的光学接口。

荧光

高灵敏度发射显微光谱&成像

对20/30PV进行一定配置，可获得显微样品的荧光和冷光光谱和成像。搭载Lightblades技术，光谱范围扩展到从深紫外到近红外，并且能够在同一光谱范围测量发射光谱，因此，20/30 PV是材料科学，生物，地理等学等学科中测量显微荧光的有力工具。

紫外-可见-近红外偏振光的显微光谱&成像

对20/30 PV进行一定配置，即便是最小的样品，也能获得其偏振光谱和成像。搭载Lightblades技术以及从深紫外到近红外光谱范围使得20/30 PV成为性能的偏振显微分光光度计。具有双折射或其他类型偏振特性的样品通过这个精良的系统可以快速便捷的获得其光谱和成像。

光谱表面Mapping绘图

结合硬件和软件对具有微观空间分辨率的样品进行自动光谱分析，可生成样品的吸收，透射，反射，荧光，发射和拉曼光谱的3D绘图。

紫外-可见-近红外的成像质量

20/30 PV包括了一个的配有科研级光学器件的紫外-可见-近红外显微镜。可在紫外-可见-近红外区域进行高分辨数字成像。20/30 PV拥有精良的图像处理软件。这使得20/30 PV在进行透射，反射，偏振和荧光显微检测的时候，能够快速便捷的实时观测和捕捉图像。

20/30 XL

20/30 XL™显微分光光度计的设计允许您测量具有微观特征的大尺度样品的光谱，图像，和薄膜厚度。“XL”代表“超大”，具有微观特征的大尺度样品是20/30 XL的样本类型。

应用

Ÿ 半导体膜厚

Ÿ MEMS器件

Ÿ 表面等离子体共振

Ÿ 光子带隙晶体

Ÿ 过程杂质检测

Ÿ 蛋白质晶体

Ÿ 法医学

Ÿ 药物化学

Ÿ 可疑文件

Ÿ 有机发光器件

Ÿ 平板彩色面具

Ÿ 组合化学

支持

CRAIC Technologies为的CRAIC设备提供服务和支持。CRAIC Technologies服务工程师对CRAIC Technologies产品提供的设备修理，维护，培训和技术支持。