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机床商务网供应网 工量刃具 其它工量刃具 测厚仪/厚度计VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀

VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀

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更新时间:2024-12-09

有效日期:还剩76

产品详情

J.A.Woollam
VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體,實現了快速大面積掃描,寬廣的光譜範圍適合各種大面積薄膜的量測,尺寸可達1.1x1.5m,光譜範圍可達245-1690nm

VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀點:
  • 大面積尺寸樣品膜厚量測,可達1.1 x 1.5 m
  • 均勻性掃描適用各種材料
  • UV-VIS-IR波長可選
  • 智慧型使用介面,快速定義量測區域欲測試點
  • 內建完整model,快速因應各式材料薄膜
Theta-SE橢圓儀 應用:
  • VCSEL量測
VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀

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主营产品:
數值控制雕刻機,雷射切割機,機器人零組件,機器人相關模組
公司性质:
其他

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